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為(wei)了滿(man)足現(xian)(xian)代材(cai)料研(yan)究的(de)挑戰，Swift開發了一(yi)系(xi)列*可(ke)定(ding)制(zhi)的(de)原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多(duo)種顯(xian)微觀測系(xi)統，比如(ru)掃描電鏡、透射(she)電鏡、光(guang)學顯(xian)微鏡、共(gong)聚(ju)焦顯(xian)微鏡等(deng)。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可(ke)實現(xian)(xian)...

Alpha-Step D-300/500 探(tan)針(zhen)式輪廓儀支持臺(tai)(tai)階高度(du)、粗糙(cao)度(du)、翹曲度(du)和(he)應力(li)的2D 測(ce)量。Alpha-Step臺(tai)(tai)階儀光學杠桿傳感(gan)器技(ji)術提供(gong)高分辨率測(ce)量，大(da)垂(chui)直范圍和(he)低觸(chu)力(li)測(ce)量功能。 ...

非接觸式(shi)輪廓(kuo)儀優點就是測量(liang)(liang)裝(zhuang)置探測部分不(bu)與(yu)被測表面的直接接觸，保(bao)護了(le)測量(liang)(liang)裝(zhuang)置，同時避免了(le)與(yu)測量(liang)(liang)裝(zhuang)置直接接觸引(yin)入的測量(liang)(liang)誤差。Zeta-20三維光學(xue)輪廓(kuo)儀集成了(le)六種光學(xue)計量(liang)(liang)技術。 ZDot 測量(liang)(liang)模式(shi)同時采...

Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和(he)高精(jing)確度相移干涉 (PSI) 技術的經濟三維光學輪廓儀(yi)，其可以用于多種用途(tu)的高精(jing)度表面測量。我司有此機(ji)器可測樣。

iNano高精度臺式納米壓痕(hen)(hen)儀是一種緊湊(cou)，用(yong)戶友好的納米機械(xie)測量(liang)系(xi)(xi)統(tong)，設計用(yong)于(yu)硬(ying)涂(tu)層，薄膜和少量(liang)材(cai)料。該系(xi)(xi)統(tong)旨在進(jin)行準確，可重復(fu)的納米級(ji)機械(xie)測試，包括壓痕(hen)(hen)，硬(ying)度，劃(hua)痕(hen)(hen)和通用(yong)納米級(ji)測試。iNano具有很(hen)...

Lumina AT1光(guang)學表面缺陷分(fen)析儀可對玻(bo)(bo)璃(li)、半導體及光(guang)電(dian)子材(cai)料(liao)進行表面檢測(ce)。Lumina AT1既能(neng)夠檢測(ce)SiC、GaN、藍寶石(shi)和玻(bo)(bo)璃(li)等透明材(cai)料(liao)，又能(neng)對Si、砷(shen)化鎵、磷化銦等不(bu)透明基板進行檢測(ce)，其...

Filmetrics R50 是KLA電(dian)(dian)阻測(ce)試家(jia)族的(de)(de)最新產品。R50方阻測(ce)試儀是KLA超(chao)45年(nian)電(dian)(dian)阻測(ce)量(liang)(liang)技術地位之作(zuo)。電(dian)(dian)阻測(ce)量(liang)(liang)和監(jian)控對于任何使(shi)用導電(dian)(dian)薄(bo)膜的(de)(de)行業都(dou)至關(guan)重要，從半導體制造(zao)到可(ke)穿(chuan)戴(dai)技術所需的(de)(de)柔...

高(gao)精度原子力顯微鏡 ParkNX10為(wei)您(nin)帶來納(na)米級(ji)分辨率的數據(ju)，值(zhi)得您(nin)信賴、使用和擁有(you)。 在SmartScanAuto有(you)的智能模式下，系統自動(dong)執(zhi)行所有(you)必要的成像操作，同時智能選擇(ze)好(hao)的圖(tu)像質量和掃描...

Nano Indenter® G200原位(wei)納米(mi)(mi)力(li)學測試系(xi)統(tong)是一種準(zhun)確，靈活，使(shi)用方(fang)便的納米(mi)(mi)級機械(xie)測試儀器。 G200 測量(liang)楊氏模量(liang)和(he)硬度，包括從納米(mi)(mi)到(dao)毫(hao)米(mi)(mi)的六(liu)個數量(liang)級的形變(bian)測量(liang)。 可測量(liang)聚合...

SPRm200 表面等(deng)離子共(gong)振(zhen)顯微鏡(jing)工作原(yuan)理(li)基于表面等(deng)離子共(gong)振(zhen)（SPR）技術。是世界上先將表面等(deng)離子體(ti)(ti)共(gong)振(zhen)技術和(he)光學顯微鏡(jing)巧(qiao)妙(miao)結合為一體(ti)(ti)的生物傳感檢測儀。可以同時得(de)到細胞原(yuan)位明(ming)場成(cheng)像、SPR成(cheng)像、及S...

與X射(she)線用(yong)氮(dan)化硅(gui)(gui)(gui)窗(chuang)(chuang)口(kou)類似(si)，透(tou)射(she)電(dian)鏡(jing)(TEM)用(yong)氮(dan)化硅(gui)(gui)(gui)薄(bo)(bo)膜窗(chuang)(chuang)口(kou)也使用(yong)低應力氮(dan)化硅(gui)(gui)(gui)薄(bo)(bo)膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要(yao)求。窗(chuang)(chuang)口(kou)有單窗(chuang)(chuang)口(kou)和多(duo)窗(chuang)(chuang)口(kou)陣列等不(bu)同(tong)規格。同(tong)時SHNTI也定制多(duo)孔氮(dan)化硅(gui)(gui)(gui)薄(bo)(bo)膜窗(chuang)(chuang)口(kou)...

公司(si)擁有齊全的(de)納(na)米(mi)系列壓(ya)(ya)印膠(jiao)材(cai)(cai)料，熱(re)壓(ya)(ya)型(xing)納(na)米(mi)壓(ya)(ya)印膠(jiao)、熱(re)塑型(xing)、紫外光固化型(xing)、紫外光固化納(na)米(mi)壓(ya)(ya)印和光刻兩用膠(jiao)、舉離(li)型(xing)傳遞層材(cai)(cai)料、刻蝕(shi)型(xing)傳遞層材(cai)(cai)料、各種與(yu)納(na)米(mi)壓(ya)(ya)印技術相關的(de)化學藥(yao)品，如(ru)模板防粘(zhan)劑、基片增粘(zhan)劑...

緊(jin)湊型臺(tai)式光(guang)刻系統重新定義無(wu)(wu)掩(yan)(yan)模(mo)光(guang)刻技術LITHO MASKLESS 是一款緊(jin)湊型臺(tai)式光(guang)刻系統利用基于 UV LED 的 DLP 引擎(qing)實現(xian)無(wu)(wu)掩(yan)(yan)模(mo)圖案化。設計簡(jian)潔(jie)，精準它將微加工(gong)技術從(cong)潔(jie)凈室和任何研究或...

SUME BW510是用于研發或小批量生(sheng)產的(de)(de)半自動晶圓鍵合設(she)備，具備良好的(de)(de)壓(ya)力與(yu)溫(wen)度均勻性(xing)較為特的(de)(de)結構設(she)計(ji)保(bao)證(zheng)鍵合的(de)(de)壓(ya)盤相對水平，優良的(de)(de)真(zhen)空(kong)系統以及(ji)(ji)腔體設(she)計(ji)，方便簡潔的(de)(de)菜(cai)單編輯和設(she)備狀態監(jian)控以及(ji)(ji)安(an)全保(bao)...

自(zi)(zi)由(you)曲(qu)面(mian)(mian)(mian)三(san)維面(mian)(mian)(mian)型檢(jian)測(ce)(ce)儀自(zi)(zi)由(you)曲(qu)面(mian)(mian)(mian)光(guang)(guang)學(xue)元件應用于智能車載顯示、AR 顯示、手機鏡頭(tou)、激光(guang)(guang)顯示、照明、 光(guang)(guang)刻等前沿領域，自(zi)(zi)由(you)曲(qu)面(mian)(mian)(mian)三(san)維面(mian)(mian)(mian)型檢(jian)測(ce)(ce)儀，能夠非(fei)接觸(chu)測(ce)(ce)量光(guang)(guang)學(xue)鏡面(mian)(mian)(mian)元件的三(san)維面(mian)(mian)(mian)型數據，開(kai)展三(san)維輪廓(kuo)分析和三(san)...

晶圓翹曲應(ying)力(li)測量儀(yi)具備三維(wei)翹曲（平整度）及(ji)(ji)薄膜(mo)應(ying)力(li)的檢測功能，適用于半導體(ti)晶圓生產(chan)、半導體(ti)制程工藝(yi)開發、玻璃及(ji)(ji)陶瓷(ci)晶圓生產(chan)

從產(chan)品研發到質量控(kong)制，該(gai)系統可(ke)以用于從超光滑(hua)鏡(jing)面到粗(cu)糙面的各(ge)種(zhong)樣(yang)品進行表面微觀測量分(fen)析和粗(cu)糙度質量評價。白(bai)光干(gan)涉原理。

Strain Viewer 內應力檢測儀(yi)具(ju)備(bei)化(hua)合(he)物(wu)晶圓內應力分布測量及(ji)缺陷篩查等檢測功能

高(gao)級研究型(xing)高(gao)光(guang)(guang)譜(pu)顯微系(xi)統(tong)結合了高(gao)光(guang)(guang)譜(pu)技(ji)術和顯微鏡技(ji)術，能夠在不同(tong)波長范(fan)圍內獲(huo)取(qu)(qu)高(gao)分辨率的光(guang)(guang)譜(pu)信息與生物樣(yang)品形態(tai)圖，實(shi)現(xian)在一張圖中同(tong)時(shi)獲(huo)取(qu)(qu)光(guang)(guang)譜(pu)和圖像信息。該系(xi)統(tong)還運用AI技(ji)術實(shi)現(xian)虛擬染(ran)色(se)，大幅度(du)提高(gao)病理...

陣列(lie)式壓(ya)力(li)傳感(gan)系統(tong)通(tong)過(guo)由前(qian)(qian)端(duan)柔性(xing)陣列(lie)式微(wei)機電壓(ya)力(li)感(gan)測器及后端(duan)軟(ruan)件(jian)界面組成，前(qian)(qian)端(duan)傳感(gan)器依所承受壓(ya)力(li)呈現線性(xing)反(fan)應變(bian)化，壓(ya)力(li)越大(da)則電導越高，再由后端(duan)軟(ruan)件(jian)將接觸面壓(ya)力(li)分布(bu)實時呈現并記錄，協助設備進行(xing)有效調整校...

碳化硅SiC長(chang)晶(jing)設備(bei)是實現高質量SiC晶(jing)體生(sheng)長(chang)、高純度(du)原料合(he)成、高溫晶(jing)體熱(re)處理的(de)專業設備(bei)。廣泛(fan)應用于SiC晶(jing)體生(sheng)長(chang)、原料合(he)成、晶(jing)體熱(re)處理領(ling)域。可以生(sheng)長(chang)6/8英寸的(de)晶(jing)錠。

MPCVD金剛(gang)石長晶(jing)(jing)(jing)設(she)備Intelligent MPCVD Dimond Growth System (IMD)系列金剛(gang)石晶(jing)(jing)(jing)體(ti)(ti)生長系統(tong)，是(shi)實現高(gao)質量金剛(gang)石晶(jing)(jing)(jing)體(ti)(ti)生長、高(gao)純度晶(jing)(jing)(jing)體(ti)(ti)薄(bo)膜沉(chen)積、高(gao)溫晶(jing)(jing)(jing)體(ti)(ti)熱處理的(de)...

Desk V沉(chen)積(ji)鍍膜機使用(yong)一(yi)個(ge)2英(ying)寸的(de)陰極進行(xing)濺射，由一(yi)個(ge)最大輸出(chu)為100毫安(an)的(de)直(zhi)流電源驅動(dong)。使用(yong)傾(qing)斜(xie)/旋轉臺來實現好的(de)樣品(pin)覆蓋，特別是在(zai)粗糙的(de)表(biao)面。Desk V還可以在(zai)沉(chen)積(ji)前用(yong)蝕刻臺和(he)快門對(dui)樣品(pin)進行(xing)...

全自動步進(jin)重復式激(ji)光(guang)(guang)(guang)干(gan)涉(she)光(guang)(guang)(guang)刻機VIL 1000納(na)米光(guang)(guang)(guang)刻系統(tong)具有全自動光(guang)(guang)(guang)路重構、動態(tai)鎖相、高精度步進(jin)重復曝光(guang)(guang)(guang)等強大功 能。在(zai)放置旋涂(tu)好光(guang)(guang)(guang)刻膠的(de) 晶圓后，無(wu)需任何手動設(she)置或調整，我們的(de)自動化系統(tong)可以在(zai)2 ...