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產品簡介
為了滿足現(xian)代材料研究的(de)挑戰,Swift開發了一系(xi)列*可(ke)定(ding)制(zhi)的(de)原(yuan)(yuan)(yuan)位(wei)拉伸(shen)試(shi)(shi)樣(yang)臺。這些拉伸(shen)試(shi)(shi)樣(yang)臺適合多種顯微觀測(ce)系(xi)統(tong),比如掃描電鏡(jing)、透射電鏡(jing)、光學(xue)(xue)顯微鏡(jing)、共聚(ju)焦顯微鏡(jing)等。支(zhi)持EBSD,樣(yang)品加熱和冷卻,可(ke)實(shi)現(xian)原(yuan)(yuan)(yuan)位(wei)“拉伸(shen)—剪(jian)切"、“壓(ya)縮(suo)—剪(jian)切"、“單軸拉伸(shen)/壓(ya)縮(suo)"、“純剪(jian)切"及(ji)疲勞(lao)力(li)(li)學(xue)(xue)測(ce)試(shi)(shi)等多重測(ce)試(shi)(shi)模式,實(shi)現(xian)原(yuan)(yuan)(yuan)位(wei)復合載荷測(ce)試(shi)(shi)薄(bo)膜及(ji)細絲力(li)(li)學(xue)(xue)實(shi)驗。
article
相(xiang)關文章(zhang)| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 其他 | 應用領域 | 化工,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
原位拉伸臺
Swift原(yuan)位拉(la)伸試樣臺(tai)也可立(li)使(shi)用(yong)測定(ding)材(cai)料(liao)力(li)學參(can)數;同(tong)時(shi)由于(yu)結(jie)(jie)構緊(jin)湊微(wei)小、充(chong)分考慮了真空兼容性和電磁兼容性,因此可實現與(yu)金(jin)相顯微(wei)鏡(jing)、掃(sao)描(miao)電鏡(jing)、拉(la)曼光譜(pu)儀(yi)、X射線(xian)衍射儀(yi)、原(yuan)子力(li)顯微(wei)鏡(jing)等顯微(wei)成像設備的(de)(de)兼容,所采(cai)用(yong)的(de)(de)超(chao)低速(su)準(zhun)靜(jing)態(tai)加載(zai)方(fang)式有(you)利(li)于(yu)在(zai)成像儀(yi)器下對載(zai)荷作用(yong)下材(cai)料(liao)細微(wei)的(de)(de)變(bian)形損傷變(bian)化(hua)狀況進(jin)行連續的(de)(de)可視(shi)化(hua)原(yuan)位監測,便(bian)于(yu)系統深(shen)入的(de)(de)研(yan)究(jiu)揭示載(zai)荷作用(yong)、材(cai)料(liao)變(bian)形損傷機制與(yu)微(wei)觀結(jie)(jie)構變(bian)化(hua)間(jian)的(de)(de)規律。


原位拉伸臺應用
Swift拉伸試驗臺是(shi)通用的(de),能夠(gou)在各種(zhong)材(cai)(cai)料(liao)(liao)上進行(xing)各種(zhong)機(ji)械測(ce)試。在靜態或動態條件下觀(guan)(guan)察材(cai)(cai)料(liao)(liao)表面納米級(ji)微(wei)觀(guan)(guan)形(xing)態和結(jie)構變(bian)(bian)化。通過實時獲取的(de)載荷,形(xing)變(bian)(bian)和溫度等(deng)數(shu)據,并結(jie)合掃描電子顯微(wei)鏡提(ti)供(gong)的(de)材(cai)(cai)料(liao)(liao)微(wei)觀(guan)(guan)結(jie)構分(fen)(fen)析數(shu)據,實現了(le)定量分(fen)(fen)析材(cai)(cai)料(liao)(liao)微(wei)觀(guan)(guan)力學性(xing)質,相變(bian)(bian)行(xing)為(wei),取向變(bian)(bian)化,裂(lie)紋萌(meng)生和擴(kuo)展,材(cai)(cai)料(liao)(liao)疲勞和斷裂(lie)機(ji)制,材(cai)(cai)料(liao)(liao)彎曲(qu)機(ji)制,高溫蠕變(bian)(bian)性(xing),分(fen)(fen)層,形(xing)成(cheng)滑移(yi)面以及脫落等(deng)現象(xiang)。
- 半導(dao)體器件(jian),薄膜(mo)
- 硬質涂層(ceng),電鍍(du)層(ceng)
- 金屬材(cai)料,陶瓷(ci)材(cai)料
- 玻璃,塊體(ti)材料
- 復(fu)合(he)材料(liao),聚合(he)物材料(liao)
- 電鍍層,釬焊(han)或焊(han)接接頭
- 礦物,木材
- 有機材料等等

測(ce)試方法

拉伸試(shi)樣臺型號(hao)
Swift開(kai)發了一系列基礎拉伸試樣(yang)臺(tai),可以(yi)實現*定制(zhi)和增(zeng)強(qiang),以(yi)適應任何應用。
型號 A 傾斜臺
該模型設計了一個(ge)(ge)帶有旋轉和傾斜工作臺,測(ce)試(shi)樣品可以在任意(yi)一個(ge)(ge)0°平角或70°EBSD角度。標準加載裝置大加載力5KN,可升級10kN測壓元件。樣品臺行程26mm。


型號(hao) B 試驗臺
型號B試驗臺具有較低的外形系數以適合受限的SEM室,并且可以在0°或70 °EBSD下測試樣品。負載范圍可達5kN。樣品臺行程可達26mm。


型號 C 試驗臺
C型(xing)微型(xing)拉伸(shen)臺是專門為(wei)(wei)小型(xing)或(huo)臺式SEM開發的,并配置(zhi)為(wei)(wei)在0°或(huo)70 °EBSD下測試樣(yang)品(pin)。負載范圍高達2kN。樣(yang)品(pin)臺行程可達16mm。



控制(zhi)器(qi)和軟件
Swift儀(yi)器的(de)拉伸臺采用計算機控制的(de)工作(zuo)流程設計,使操作(zuo)簡單高效(xiao)。
控制器(qi)
Swift Instruments的(de)控制器和(he)軟(ruan)件為(wei)拉伸臺和(he)其他選項提供(gong)了(le)一(yi)個計(ji)算(suan)機界(jie)面,并與運行Windows 10的(de)臺式(shi)電腦(nao)(nao)、筆記本電腦(nao)(nao)和(he)平(ping)板電腦(nao)(nao)兼容(rong)。


軟件(jian)
程(cheng)序測試(shi)例程(cheng)通過一個拖放界面,能夠控制力和(he)溫度(du)。記錄試(shi)驗荷載、位移和(he)溫度(du),自(zi)動計算應力和(he)應變。測試(shi)數據(ju)可以導(dao)出進(jin)行外(wai)部分(fen)析。



