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相(xiang)關文章(zhang)為(wei)了滿足現代(dai)材料(liao)研究的挑(tiao)戰,Swift開發(fa)了一系列(lie)*可定制的原(yuan)位(wei)拉(la)(la)(la)伸(shen)試(shi)樣(yang)臺。這(zhe)些(xie)拉(la)(la)(la)伸(shen)試(shi)樣(yang)臺適合多(duo)種顯(xian)微(wei)觀測(ce)(ce)系統,比如(ru)掃描(miao)電鏡、透射電鏡、光學(xue)顯(xian)微(wei)鏡、共聚焦顯(xian)微(wei)鏡等(deng)。支持EBSD,樣(yang)品加熱(re)和冷(leng)卻(que),可實(shi)(shi)現原(yuan)位(wei)“拉(la)(la)(la)伸(shen)—剪切(qie)”、“壓(ya)(ya)縮(suo)—剪切(qie)”、“單軸拉(la)(la)(la)伸(shen)/壓(ya)(ya)縮(suo)”、“純剪切(qie)”及疲勞力學(xue)測(ce)(ce)試(shi)等(deng)多(duo)重測(ce)(ce)試(shi)模式(shi),實(shi)(shi)現原(yuan)位(wei)復(fu)合載荷測(ce)(ce)試(shi)薄膜及細絲(si)力學(xue)實(shi)(shi)驗。
更新時間:2025-09-25
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