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熱(re)門搜(sou)索:
Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯用系統
Lumina光學表面缺陷分析儀
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
納米團簇束流沉積系統
Profilm 3D經濟三維光學輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠

產品簡介
Profilm 3D是一款兼(jian)具垂(chui)直(zhi)掃描(miao)干(gan)(gan)涉 (VSI)和高精(jing)確度(du)相移干(gan)(gan)涉 (PSI) 技術(shu)的經(jing)濟三維光學輪廓儀,其可(ke)以用于多種用途(tu)的高精(jing)度(du)表面測量。我司(si)有此(ci)機(ji)器可(ke)測樣。
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 地礦,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,綜合 |
經濟三維光學輪廓儀Profilm 3D光學輪廓(kuo)儀具(ju)有以下優點:
? 價格(ge)優勢:市場上具(ju)性價比(bi)的(de)白光干涉(she)輪廓(kuo)儀,具(ju)有價格(ge)優勢的(de)高精度(du)輪廓(kuo)儀。
? 快速測(ce)(ce)量大(da)面(mian)積區域:測(ce)(ce)量范(fan)圍為毫米級別,配置XY樣(yang)品(pin)臺達100mm*100mm,可實現(xian)大(da)面(mian)積樣(yang)品(pin)的輕松測(ce)(ce)量;
? 簡單易用:只需將樣品(pin)放置(zhi)于樣品(pin)臺上,即可直接進行測量;
? 可以(yi)測(ce)量(liang)非(fei)(fei)接(jie)觸(chu)式(shi)非(fei)(fei)平坦樣品:由于光(guang)學(xue)(xue)輪(lun)廓(kuo)測(ce)量(liang)法(fa)是(shi)一種(zhong)非(fei)(fei)接(jie)觸(chu)式(shi)技術,可以(yi)輕松測(ce)量(liang)彎曲(qu)和其他非(fei)(fei)平面(mian)表(biao)面(mian)。還輕松地(di)測(ce)量(liang)曲(qu)面(mian)的(de)表(biao)面(mian)光(guang)潔度,紋理和粗糙度。除此之(zhi)外,作為一種(zhong)非(fei)(fei)接(jie)觸(chu)式(shi)方法(fa)光(guang)學(xue)(xue)輪(lun)廓(kuo)儀(yi)不會像探(tan)針式(shi)輪(lun)廓(kuo)儀(yi)那樣損壞(huai)柔軟(ruan)的(de)薄膜。
? 無需(xu)更(geng)換(huan)耗材:只需(xu)要一個(ge)LED光源,無需(xu)其(qi)他配(pei)件(jian)更(geng)換(huan);
? 可視化(hua)3D功能:Profilm 3D輪廓儀具有強(qiang)大的處理軟件,軟件除包(bao)括表面粗糙度(du),形狀和臺(tai)階高(gao)度(du)的測量(liang)外,還可以(yi)任意角度(du)移動樣(yang)品量(liang)測三維圖形,多角度(du)分析樣(yang)品圖像。
適用于各類樣品:Profilm 3D輪廓儀適用于各類金屬(shu)、非晶硅(gui)和多晶硅(gui)、陶(tao)瓷材料、電介質、硬質涂層、高分子聚合(he)物、光刻(ke)膠等的表面輪廓及粗(cu)糙度等測(ce)量。
Profilm 3D光學(xue)輪廓儀功能(neng):
? 用于(yu)測(ce)量(liang)粗糙度
使用Profilm 3D經濟三維光學輪廓儀可以以秒為單位測量表面紋理,光潔度和粗糙度,只需單擊鼠標即可完成。Profilm3D采用白光干涉測量(WLI)和相移干涉測量(PSI)等行業標準技術,可快速測量大面積2D區域的粗糙度和紋理,無需接觸樣品。
? 測量曲面(mian)樣品
由于(yu)Profilm 3D是一(yi)種非接觸式技術,因此(ci)可以(yi)輕松測量(liang)彎曲和其他非平面(mian)表面(mian)。另外在測量(liang)方法中(zhong)添加形(xing)狀去除(chu)(也稱(cheng)為形(xing)狀去除(chu))和過(guo)濾,即可輕松實(shi)現表面(mian)光(guang)潔度,紋理和粗糙(cao)度的(de)測量(liang)!
? 任何粗糙(cao)度參數標(biao)準
Profilm 3D擁(yong)有47個ASME / EUR / ISO粗糙度(du)參數標準。可以(yi)在結果中(zhong)顯示其中(zhong)的(de)(de)任何一個或(huo)全部,從而使自定義(yi)報告變得輕而易(yi)舉。符合ISO 9000和ASME B46.1標準,ISO現在*支持測(ce)量表(biao)面粗糙度(du)的(de)(de)光學方法(fa)。特別是,ISO 25178第604部分描述了Profilm3D的(de)(de)WLI方法(fa)(其中(zhong)也稱為(wei)相干(gan)掃(sao)描干(gan)涉測(ce)量法(fa))。
二、主要功能(neng)
主要應用
-臺階高度
-表面(mian)粗糙(cao)度
-線寬及輪廓
技術能力
厚度范圍,VSI 50nm-100mm
厚度(du)范圍,PSI 0-3 µm
樣(yang)品反(fan)射率范圍 0.05%-100%
Piezo范圍(wei) 500 µm
XY平臺范圍100mm x 100mm
三、應用
臺階高度、表(biao)面形(xing)貌、表(biao)面粗(cu)糙度、大面積(ji)拼接等
