產品中心
Product Center
熱(re)門(men)搜(sou)索:
Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯用系統
Lumina光學表面缺陷分析儀
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
納米團簇束流沉積系統
Profilm 3D經濟三維光學輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠

產品簡介
Strain Viewer 內應力檢測儀具(ju)備化合物晶圓(yuan)內應(ying)力分布測(ce)量及(ji)缺陷篩查(cha)等(deng)檢測(ce)功能
| 品牌 | 其他品牌 |
|---|
Strain Viewer 內應力檢測儀
優勢
√ 基于雙折(zhe)射應力測量模型實現應力瞬時(shi)測量,顯示應力二維分布(bu)偽(wei)彩圖
√ 采用(yong)雙遠心檢測光路,相位延遲(chi)測量精(jing)度高
√ 根據不同測量視場(chang)要求,多種鏡頭可選
√ 訂制化樣品托盤,適應(ying)不(bu)同規格(ge)晶圓批量測試
適用于(yu)三(san)代化合物晶圓片、玻(bo)璃晶圓片、精密(mi)光學(xue)元件(jian)(平晶,棱鏡(jing),波片,透鏡(jing)等)的(de)內應力(li)檢(jian)測
面向化合(he)物晶(jing)圓生(sheng)產、光學精密加工等(deng)行(xing)業
√ 基于(yu)偏振光(guang)應(ying)力(li)雙折射效應(ying)檢測晶(jing)圓材(cai)料內(nei)部(bu)應(ying)力(li)分布。當晶(jing)體材(cai)料由于(yu)內(nei)部(bu)缺陷存在應(ying)力(li)集中時會導致應(ying)力(li)雙折射效應(ying),偏振(zhen)(zhen)光透(tou)過它時會發生偏振(zhen)(zhen)態調(diao)制,通過測(ce)量透(tou)射光的(de)斯托克斯矢量可以推算??材(cai)料的(de)應(ying)力(li)延(yan)遲量,從而(er)得(de)到材(cai)料內應(ying)力(li)分布;
√ 可同步集成晶圓表面缺陷(xian)暗場檢測和尺寸量測。
實測案(an)例







