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當前位置:首頁產品中心原子力顯微鏡NX10 Park高精度原子力顯微鏡

高精度原子力顯微鏡

產品簡介

高精度原子力顯微鏡
ParkNX10為您帶來納米級分辨率的數據,值得您信賴、使用和擁有。
在SmartScanAuto有(you)的(de)(de)智能(neng)模式(shi)下,系統(tong)自動執(zhi)行所有(you)必要的(de)(de)成像(xiang)操作,同(tong)時(shi)智能(neng)選擇(ze)好(hao)的(de)(de)圖像(xiang)質量和掃描速度。這是通過(guo)Park的(de)(de)技術(shu)才得以(yi)實現的(de)(de)。它不僅可(ke)(ke)以(yi)為(wei)您節省時(shi)間(jian)和金錢,還可(ke)(ke)以(yi)給您帶來(lai)優質的(de)(de)研究結果(guo)。

產品型號:NX10 Park
更新時間:2025-09-19
廠商性質:代理商
訪問量:4418
詳(xiang)細介(jie)紹在線留言
品牌其他品牌產地類別進口
應用領域醫療衛生,電子/電池,綜合

高精度原子力顯微鏡

Park NX10是非接觸式原(yuan)子力顯微鏡,在延長探針使用壽命的(de)同時,還能良好(hao)地保護您的(de)樣(yang)品不受(shou)損壞。可彎(wan)曲的(de)立 XY 掃(sao)(sao)描儀(yi)和(he)Z掃(sao)(sao)描儀(yi)可帶來良好(hao)的(de)分辨率。

Park 原子(zi)力(li)顯微鏡(jing)具有(you)(you)綜合性的(de)(de)掃(sao)描模(mo)式(shi),因此您(nin)可以有(you)(you)效地收集(ji)各種數據類型。從使用世界(jie)上的(de)(de)真非接(jie)觸模(mo)式(shi)用來保持探針的(de)(de)尖銳度和樣品的(de)(de)完整性,到(dao)*的(de)(de)磁(ci)力(li)顯微鏡(jing), Park 在原子(zi)力(li)顯微鏡(jing)領域為您(nin)提供創新模(mo)式(shi).

高精度原子力顯微鏡

產品特點:

1)Smartscan智(zhi)能掃描模式,“1,2,3"點擊即(ji)可實(shi)現成像(xiang)

2)Pinpoint Nanomechanical力控出(chu)圖模式,更*的(de)力學形貌成像及(ji)各種(zhong)電(dian)學測(ce)試

3)強大的內(nei)置集成軟件系(xi)統,自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模(mo)式

高精度原子力顯微鏡


基本技術特點:

a) 掃(sao)描范圍是 50μm x 50μm的(de) 2D 掃(sao)描器,驅(qu)動 XY 軸(zhou)樣品臺

b) 高速(su)Z軸掃描器,掃描范圍(wei) 15μm

c) 低(di)噪聲(sheng) XYZ 位置傳感器(低(di)噪聲(sheng)XY閉(bi)環掃(sao)描(miao)可將(jiang)正向掃(sao)描(miao)和反向掃(sao)描(miao)間隙(xi)降至掃(sao)描(miao)范圍(wei)的 0.15% 以下)

d) 自動步(bu)進掃描,滑動嵌入 SLD 鏡頭的自主固定(ding)方式,

e) 垂直(zhi)調節驅動 Z 平臺(tai)和(he)聚焦(jiao)平臺(tai)

選項/模式

標準成像

化學性能

介電/壓電性能

?   實際非(fei)接觸式(shi)

?   接觸式

?   側向摩擦力顯微技術(LFM)

?   相位模(mo)式,輕敲(qiao)模(mo)式

?   Pinpoint成像

?   功能化探針(zhen)的(de)化學力顯微鏡(jing)

?   電化學顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)

?  (EFM)靜電力顯微鏡

?  動態接觸式電子顯微鏡(EFM-DC)

?  (PFM)壓電力顯微(wei)鏡

?   高電壓PFM

力測量

磁性能

熱性能

?   力(li)-距離(li)(F-D)光譜

?   力(li)譜成像

?   磁(ci)力顯微鏡

?   可(ke)調AFM

?   掃(sao)描(miao)熱顯微鏡(SThM)

電性能


機械性能

?   Pinpoint 導電AFM(CP-AFM)

?   I-V譜線(xian)

?   掃描開爾文探(tan)針顯微鏡(KPFM)

?   QuickStep掃描電容顯(xian)微(wei)鏡(SCM)

?   掃描電阻(zu)顯(xian)微(wei)鏡(SSRM)

?   掃描隧道顯微鏡(jing)(STM)

?   掃描隧道光譜(pu)(STS)

?   光電流測繪(PCM)

?   SICMcurrent-distance(I/d)Spectroscopy

?   Pinpoint模式

?   力調制(zhi)顯微鏡(FMM)

?   壓痕(hen),納米刻蝕

?   高壓納米刻蝕

?   納米(mi)操縱















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