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當前位置：首頁產品中心原子力顯微鏡便攜式原(yuan)子力顯微鏡

便攜式原子力顯微鏡

產品簡介

便(bian)攜式(shi)原子(zi)力(li)顯微鏡(jing) ParkNX10為(wei)您帶(dai)來納米(mi)級(ji)分辨率(lv)的(de)(de)數據，值(zhi)得(de)您信賴、使用和(he)(he)擁(yong)有(you)。 在SmartScanAuto有(you)的(de)(de)智(zhi)能模(mo)式(shi)下，系(xi)統自動(dong)執行(xing)所有(you)必要(yao)的(de)(de)成像操作(zuo)，同時(shi)智(zhi)能選(xuan)擇好的(de)(de)圖像質量和(he)(he)掃描(miao)速度。這是通過(guo)Park的(de)(de)技(ji)術才(cai)得(de)以實現(xian)的(de)(de)。它不(bu)僅(jin)可以為(wei)您節(jie)省時(shi)間和(he)(he)金錢，還可以給您帶(dai)來優質的(de)(de)研究結果。

產品型號：
更新時間：2024-06-17
廠商性質：代理商
訪問量：2484
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品牌其他品牌產地類別進口
應用領域醫療衛生,電子/電池,綜合

便攜式原子力顯微鏡介紹：

Park NX10是非(fei)接觸式原子力顯微鏡，在延長探針(zhen)使用壽命的(de)同時，還能(neng)良(liang)好(hao)地(di)保(bao)護您(nin)的(de)樣(yang)品不(bu)受損(sun)壞。可彎曲的(de)立 XY 掃描儀和Z掃描儀可帶來良(liang)好(hao)的(de)分辨率。

Park 原(yuan)子(zi)力顯微鏡(jing)(jing)(jing)具有綜合性的掃描模(mo)式(shi)，因(yin)此您(nin)可(ke)以有效地收集各種數據類型。從使用世(shi)界上的真(zhen)非(fei)接觸(chu)模(mo)式(shi)用來保持探針(zhen)的尖銳度和樣(yang)品的完整性，到先進的磁力顯微鏡(jing)(jing)(jing)， Park 在原(yuan)子(zi)力顯微鏡(jing)(jing)(jing)領域(yu)為您(nin)提供創新模(mo)式(shi).

便攜式原子力顯微鏡產品特點：

1）Smartscan智能掃描模式，“1，2，3"點(dian)擊即(ji)可實現(xian)成像

2）Pinpoint Nanomechanical力控(kong)出圖(tu)模式，更*的力學(xue)形貌成像及各種電學(xue)測試

3）強(qiang)大的內(nei)置集成軟件系統，自(zi)帶LFM/液相(xiang)AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式


基本技術特點：

a) 掃描范圍是 50μm x 50μm的 2D 掃描器，驅動 XY 軸樣(yang)品臺

b) 高(gao)速Z軸掃描器(qi)，掃描范圍 15μm

c) 低噪(zao)聲 XYZ 位置傳感(gan)器（低噪(zao)聲XY閉環掃描(miao)可(ke)將正向掃描(miao)和(he)反向掃描(miao)間隙降(jiang)至掃描(miao)范圍的 0.15% 以(yi)下）

d) 自(zi)動步(bu)進(jin)掃描，滑動嵌入 SLD 鏡頭(tou)的自(zi)主固(gu)定(ding)方(fang)式，

e) 垂直(zhi)調節驅動 Z 平臺和聚焦(jiao)平臺

選項/模式

標準成像

化學性能

介電/壓電性能

?   實(shi)際非接(jie)觸(chu)式

?   接(jie)觸式

?   側(ce)向摩擦力顯微技術（LFM）

?   相位模(mo)式(shi)，輕敲模(mo)式(shi)

?   Pinpoint成像

?   功能化探針的化學(xue)力(li)顯微鏡

?   電化學顯(xian)微鏡(EC-STM和EC-AFM)

?  (EFM)靜(jing)電(dian)力顯微(wei)鏡

?  動(dong)態接觸式電子(zi)顯微鏡(jing)（EFM-DC）

?  （PFM）壓電力(li)顯(xian)微鏡

?   高電壓(ya)PFM

力測量

磁性能

熱性能

?   力-距離（F-D）光譜

?   力譜成像

?   磁(ci)力顯微(wei)鏡

?   可調AFM

?   掃描熱顯微鏡(jing)（SThM）

電性能


機械性能

?   Pinpoint 導電(dian)AFM（CP-AFM）

?   I-V譜線

?   掃描開爾文(wen)探針顯微鏡(jing)（KPFM）

?   QuickStep掃描電容顯微鏡（SCM）

?   掃描電(dian)阻(zu)顯微鏡（SSRM）

?   掃(sao)描隧道顯微鏡（STM）

?   掃描隧(sui)道(dao)光譜（STS）

?   光(guang)電流測繪（PCM）

?   SICMcurrent-distance（I/d）Spectroscopy

?   Pinpoint模式

?   力調制顯微(wei)鏡(jing)（FMM）

?   壓痕，納米刻蝕

?   高壓納米刻蝕

?   納米操縱














 

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