低溫強磁場共聚焦樣品桿

物性表征-低溫光學

可以用于(yu)低溫強磁場環境下的共聚焦拉曼、熒光、MOKE、掃描成(cheng)像(xiang)測試。

主要特點：

1。適用溫度范圍1.5 K~ 300 K,適用最大(da)磁場18T

2. X/Y/Z三維納米級(ji)壓電位移臺（閉環）

3.行(xing)程(cheng)范圍3 x 3 x 3 mm ·

4.亞(ya)納米級掃描范圍30 x 30 x 30 um ·

5.多通道電學(xue)測試 ·

6.低溫物鏡NA~0.85, 450 to 1100 nm校正消色差

7.·激發(fa)波長(chang)范圍400~ 1000 nm（默認532nm)

8. ·共聚焦拉曼、熒光、MOKE測試選件

9.兼容QD®PPMS, Oxford® TeslatronPT，Cryogenics®及(ji)南京(jing)鵬(peng)力＠等第三(san)方超導磁體系(xi)統(tong)

本設備可以(yi)(yi)被客戶(hu)用(yong)于(yu)低溫磁場環境下對樣品進(jin)行(xing)測試(shi)。可以(yi)(yi)用(yong)于(yu)共聚(ju)焦(jiao)拉曼(man)、熒(ying)光、MOKE、掃描成(cheng)像測試(shi)。多種測試(shi)選(xuan)件時(shi)的可以(yi)(yi)根(gen)據客戶(hu)需(xu)求而改變。

低溫強磁場共聚焦樣品桿